蔡司光学显微镜：如何一次扫描识别颗粒污染物？

由于污染导致设备停机时间变长，并导致系统的使用寿命降低，固体颗粒污染耐受性的降低速率也在增加，这种情况不仅仅发生在汽车行业，医疗、航空航天和增材制造等领域也面临着挑战。

因此，根据VDI第19.1部分或国际标准ISO 16232 检查微粒清洁度已成为质量管理的固定组成部分。

污染物通常源于外壳、泵、阀门或管道内部。从样品中提取颗粒后，过滤整个提取介质，并将颗粒沉积在分析滤膜上，在光学显微镜下检查滤膜，以量化颗粒污染物。如果发现了临界水平的颗粒，通常在电子显微镜下进行分析，以确定元素组成，从而找到污染的根本原因。

无缝集成工作流程中光学显微镜和电子显微镜的相关分析

加快技术清洁度的颗粒分析过程

获取结果，仅需三步

1.选择您的工作流程并开始分析您的样本

2.选择合适的 VDA/ISO 标准或选择您公司的标准

3.获取全面的结果并连接ZEN数据存储用于数据管理

提高工作效率

蔡司一次扫描技术

快速可靠的信息

软件视图

颗粒尺寸及成分一目了然

（蔡司工业质量解决方案）

声明：本网站所收集的部分公开资料来源于互联网，转载的目的在于传递更多信息及用于网络分享，并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责，也不构成任何其他建议。本站部分作品是由网友自主投稿和发布、编辑整理上传，对此类作品本站仅提供交流平台，不为其版权负责。如果您发现网站上所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题，请第一时间告知，我们将根据您提供的证明材料确认版权并按国家标准支付稿酬或立即删除内容，以保证您的权益！联系电话：010-58612588 或 Email:editor@mmsonline.com.cn。