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看春“光” 就去2018年慕尼黑上海光博会

——展位号:W4-4102

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伴随着现代光学技术与各个应用领域生产需求日益紧密的结合,各种光学检测仪器不断融入现代生产制造中,来应对复杂的二维、三维工件带来的检测挑战。原本需要手动一步一调整的检测,现在也可以“一键式测量”了。甚至能实现自动对焦及光照设定、可视化质量报告等。有一些光学扫描系统还可以便携出行,一台设备可以同时应对多种不同尺寸零件的检测任务等。

即将于上海开幕的2018年慕尼黑上海光博会上,将云集众多光学检测圈的大咖们,展会期间,W4展区特设为光学与光学制造展区,将展出光学特性测量、光学测量技术及仪器、光学传感器、光学检测系统应用、激光辅助测试测量系统。届时,蔡司工业测量旗下的光学家族成员也将重磅亮相,特邀您一同欣赏这幅别样春“光”。

2018年慕尼黑上海光博会

展期:2018年3月14日(周三)至 3月16日(周五)

地点:上海新国际博览中心,上海市浦东新区龙阳路2345号

蔡司工业测量展位号:W4-4102

展出方案:

1.多功能复合测量方案

2.三维无损CT测量方案

3.一键式高效测量方案

4.三维光学扫描检测系统

同期,蔡司光谱仪事业部也将在W4-0717一同展出产品。

★ 亮点抢先知:

便携式COMET L3D 2 5M三维光学扫描可随意移动至车间及现场直接进行检测,被测工件无需专门工装及夹具支架等。检测可获取零件全尺寸曲面数据,一台机器适合多种不同尺寸零件。

此外,蔡司光学家族中的经典系列O-INSPECT与O-SELECT也将悉数亮相,探索多功能复合式测量技术与一键式视像测量技术的未来之路。

ZEISS O-SELECT

ZEISS O-INSPECT

更多精彩,我们现场见!

( 蔡司工业测量)

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