蔡司Metrotom 800工业CT断层扫描测量仪
Metrotomgraphy，融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。在此之前只能检测或者根本不能进行质量保证检测的场合，现在可以进行高精度和无损测量。
断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同测量评估、逆向工程应用或几何比较一样可行。
重要特征
深思熟虑的设计
三维计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器
用于装夹工件的转台和移动系统
安全技术
全防护的测量间
符合DIN54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)
符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置）
机器技术
蔡司转台，配有直接驱动 高敏感性的探测系统
久经考验的线性技术
蔡司的精密机械组件
导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）
蔡司原装转台，配有直接驱动
自产的气浮轴承
分辨率：0.036˝
最大负载（中心）：500N
传感器
微聚焦X射线管
高电压：10 – 225 keV
电子管电流：5 – 3000 μA
目标功率：最大320 W
反射角：50°锥角
速流发射角：30°锥角
焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器
带有超高敏感性的探测系统
1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT
低失真，数字式无线电复制
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