蔡司携多款测量设备亮相SIMM2014
【编者按】在SIMM2014展会上，德国蔡司将展出包括METROTOM CT、SPECTRUM、Contura G2、O-INSPECT、Contura G3等多款测量设备。
其中，METROTOM CT 扫描测量系统完美融合了几何量计量及断层扫描成像技术，通过数字图像重构实现三维精确可视化。METROTOM作为最佳的无损检测与测量方案，弹指间，完美呈现内部细节，轻松洞悉内部缺陷及孔隙率，快速查看部件内部装配及间隙状态，可大幅缩短产品开发周期及质量分析时间，提供形象直观的色彩偏差分析及多样化检测报告。不同于传统破坏性测量技术，METROTOM 让业界享受高效率测量所带来的无限可能性，让一切可见可测。适用于几何量三维尺寸测量、数模对比、缺陷分析、装配检测及逆向工程等应用领域，广泛应用于塑料、汽车、医疗及科研等行业对于工业CT的多元化应用要求。
SPECTRUM是蔡司最新推出的通用经济型三坐标测量机，适用于中小型工件的测量任务。四种测量范围可灵活选配，长度不确定度最高可达2.4+L/250 um。所有导轨中均使用四面环抱气浮轴承结构，能够实现流畅、精确、高速的三轴向CNC运动，来自四个方向的牢固支撑保证了其出色的测量重复性；集成了C99L控制柜的SPECTRUM减少了测量机整体占地面积；与之匹配的myCalypso 软件中50个最常见的测量任务已经被编辑成宏程序，用户可以根据工件轻松组合，创建需要的测量任务。在测量过程中，软件中简单直观的用户向导提供了清晰、上下文关联的指令，从而加快了测量和评估速度。采用蔡司专利的ZERODOR零膨胀光栅尺，使设备整体对温度不敏感，放松了对设备使用的要求和成本；该款测量机控制柜安装在底座上，易于使用和维护SPECTRUM可以与大多数Renishaw传感器（标准5针DIN）兼容，用户可针对应用范围选择适当的传感器。
Contura G2 RDS 和 Contura G2 Active，由基础机型升级到更灵活更高精度的机型，采用主动扫描技术，物超所值，非常适合中小型生产企业。Contura G2 RDS 配置 VAST XXT 扫描探头，可自由、快速旋转探针，扫描范围达到任何的角度位置。Contura G2 Active 具有自定心功能，可测量深孔元素，具有对尺寸、形状及位置的高可靠性测量。VAST的扫描技术使工件的形状检验可以最快的速度获得高品质测量结果，可及早发现加工过程中的变化，确保产品质量并将废品率降至最低。集成Navigator技术的VAST万能扫描探头能高速高精度测量单点及多点，在测量时间降低的同时可以高密度处理数据。由蔡司研发制造的玻璃陶瓷光栅尺，具有良好的温度稳定性，保证测量结果不受温度波动的影响。
声明：本网站所收集的部分公开资料来源于互联网，转载的目的在于传递更多信息及用于网络分享，并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责，也不构成任何其他建议。本站部分作品是由网友自主投稿和发布、编辑整理上传，对此类作品本站仅提供交流平台，不为其版权负责。如果您发现网站上所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题，请第一时间告知，我们将根据您提供的证明材料确认版权并按国家标准支付稿酬或立即删除内容，以保证您的权益！联系电话：010-58612588 或 Email:editor@mmsonline.com.cn。
- 暂无反馈
