存储器测试仪

　　为了识别一个电路是否有故障,可以把电路各节点的正常响应记录下来。在做故障检测时，再把实测响应与正常电路作比较如果实测电路各节点响应都与正常响应一致，则认为电路没有故障；如果实测电路至少有～点响应与正常电路不同，则可以断定这个电路有故障。然后，可以根据不正常响应的节点及不正常响应的情况来分析故障的类型和位置。数控机床厂用这种方法来检测或诊断故障需要解决两个主要问题：数控机床厂一是研究施加什么样的激励信号，使得在电路任何位置发生故障时，均能保证电路的输出处或若干可能测量端能测量到与正常电路不一致的响应；二是电路节点响应的序列可能是比较长的，因此，所存的电路各节点的正常响应序列也是比较长的。数控机床厂在电路比较大时，会占用比较大的计算机内存，以至在实际中无法实现。数控机床厂为了占用较少的计算机内存和提高测试速度，经常需要把各响应序列压缩，即从中提炼出它的特征来不必把实测点的全部响应序列同正常电路的序列作比较，较两者的特征就可以了。  

　　而只要比一个响应序列可以是多种多样的，但一般说来应满足如下条件：

　　①这个特征序列应尽可能多地保留原序列中有用的（即对故障检测和诊断足有用的）信息，同时应尽量做到各种不同的序列应有不同的特征。

　　②从序列中提取特征的方珐磕尽可能简单，特征长度应尽可能短。

　　③为了应用特征来检测和诊断故障，对于激励信号的要求应比较简单而松弛。

　　④响应序列之间的与、或和非特征与原序列的特征之间最好有比较简单的逻辑关系。

　　特征代码分析仪是一种能够满足以上条件、比较精确地指出失效机器或线路的有效梗4试工具。它已广泛应用到各种类型的微型计算机系统故障检测、维护和生产调试 。

　　特征代码分析仪采用数据压缩技术。数控机床厂它的基本原理是：通过对电路节点的串行状态流的检测来诊断数字设备的故障。正像用示渡器来检测各点的信号波形，用电压表逐点测量电压一样，特征代码分析仪把电路各点串行数据流压缩成4位十六进制的特征代码加以显示；然后'与标在电路中的正确的特征代码进行比较，逐点追踪即可找出有故障的元器件。数控机床厂是特征代码分析仪的结构框图。

　　特征代码分析仪的使用方法如下：

　　①把一个已知的测试码加入到欲测试的微型计算机系统，记录生成的特征代码并建立故障诊断树。

　　②在被测微型计算机系统的有关电路节点上，用特征代码分析仪进行检测。

　　③当测试时发现特征代码与正常值不一致，不稳定灯亮，再利用存储的特征代码字典和故障诊断树具体追踪、定位故障。数控机床厂这时在微型计算机电路上，用特征代码分析仪的探针进行迅速检测，直到找出故障特征代码，即可确定故障部位。

　　存储器测试仪基本上采用功能测试原理制成。为了实现功能测试，它由产生测试图案的专用计算机（微型机或小型机），加上接口电路、定时装置、装置及电源等组成。

　　图案存储器是存储器测试仪的核心设备，用以产生测试图案和标准信息。机床目前，产生测试图案的方法主要有：由专门的图案生成系统产生，存人测试仪存储器内，然后输给被测存储器作为测试码；由测试仪随机产生测试图案，并自动控制测试数据的循环；由测试仪软件自动产生测试图案，并控制对存储器进行测试。

　　测试图案发生器是由测试台内的专月小型计算机（或微型计算机）构成。机床它产生的测试图案存人自己的存储器中，机床然后由控制处理器控制循环使用。接口电路包括将输入图案变为输入波形的“波形选择器”，以及为实现输入、输出信息电平转换的驱动器及其连接线路。
定时装置用以产生各种输入波形的多路相脉冲、先通脉冲等时序信号。

　　在选择或评价一台存储器测试仪时，主要考虑下列几项指标。

　　1)测试仪的频率测试仪的频率选用133MHz，或100MHz、66MHz、33MHz，还是25MHz．应当根据所需完成测试的时间来确定。例如，对66MHz PC100随机动态存储器 ( SDRAM)的全面综合测试，若采用快速测试仪需要128，机床若采用较慢速度测试仪则要花费Zmln。机床测试仪精度主要依赖于基准测试仪的频率。

　　2)支持多重平台测试仪能否用于对各种不同DRAM测试'大多数测试仪不可能仅采用一个测试单元就能同时支持EDO DRAM和PC133 SDRAM DIMM测试。机床应当了解测试仪的兼容性，从而不必购买多个测试仪或再花费巨资将现有测试仪升级来满足各种不同类型存储器的测试需要。

　　3)配件／适配器丁解适配器的使用范围，以确保满足各种不同类型存储器的测试需要，如Sun Sparc(200)、l0/20/Ultra、PCMCIA存储器、图形SGRAM、Apple模块、栈式集成电路存储器等。

　　4)错误信息显示测试仪错误信息是如何显示的，能否可以提供详尽的故障信息，是否可以与计算机通信，拓展测试仪的编程功能。

　　5)可编程性能测试仪能否可以编写SPD程序、设置程序、测试模式程序。

　　6)现场更新换代测试仪能否进行现场升级？其复杂程度如何'几乎所有小型测试仪均不可能升级到进行高速地DDR和ltambus存储器的测试。
存储器测试仪能对静态和动态MOS存储器进行比较严格的功能检查。当存储器电路出现故障时，能比较准确地进行故障定位，并显示出如下的故障信息：

　　①存储器的故障定位信息。

　　②所执行的测试程序段名称或程序段号。

　　③出错指令的地址。

　　④被测存储器的出错单元地址。

　　⑤正确操作数和错误操作数。

　　这时，操作人员可以按照输出的故障信息，更换有关存储器组件，调试修复机器。机床对于其他故障，如奇偶校验错、超时错、动态MOS荐储器刷新时限错等，还能输出故障类型，为诊断、修复存储器提供有效信息。机床它可以利用测试系统设置的6条命令，随时干预测试过程，灵活地安排测试内容和执行方式，以诊断和定位故障。

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