中控亮相2011国际仪表与测量技术大会
5月10日～12日，一年一度的仪器与测量领域水平最高、影响力最大的国际学术盛会——2011国际仪表与测量技术大会(I2MTC)在杭州龙禧福朋喜来登酒店召开。本届I2MTC由美国电气和电子工程师学会(IEEE)仪表与测量协会(I&MSociety)主办，浙江大学承办，吸引了来自美国、意大利、英国、加拿大等40多个国家和地区的300余名专家和学者参加。中控技术股份公司作为仅有的两家企业代表之一亮相，中控创始人褚健教授于开幕当天发表主旨演讲，介绍了中控在自动化控制系统和现场总线技术等领域的最新科研成果和应用，引起了国内外学者的广泛关注。
会议集聚了当今仪表与测量技术研究领域的知名专家和学者，与会代表就国际最新的仪表和测量技术、信号处理技术、数据采集技术、传感器技术等方面进行广泛的交流和讨论，集中体现了未来仪表与测量技术的发展方向。
会议现场，许多专家和学者来到中控展位，观摩ECS-700DCS演示箱，并听取工作人员的讲解。他们中有不少人表示对褚健的演讲印象深刻，对中控及其产品表现出浓厚的兴趣。鉴于此，工作人员组织部分外宾在会议结束之后赴中控参观，加深了解，促进合作。
本次会议是拓展中控国际化交流与合作的一次重要契机。借助这样的学术平台，一方面了解业内技术发展的最新动态，另一方面也促进相互间的科技交流与技术合作，进一步提升中控在测量与测试领域的学术地位和知名度。
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