断层扫描分析技术

　　METROTOM系统

　　原本不能检测或者非常耗时的和高成本的工件检测，现在可以用断层扫描分析技术快速明确地检测出误差。

　　测量技术的革命

　　Metrotom融合了计量学和层析X射线摄影法，开创了不可预期的可能性。此前只能通过损伤工件进行检测或者无法进行质量保证检测的场合，现在使用蔡司的Metrotom就可以帮忙您实现无损检测并保证高精度的测量结果。

　　断层扫描分析如同在工件内部测量：所有采集的数据可用于质量保证的范围和进行评估。无损检测技术，例如：装配检查，损伤和气孔分析，材料检验或损坏检查，如同传统的测量评估，逆向工程应用或几何比较一样可行。

　　重要特征

　　METROTOM采用了深思熟虑的设计，它的3D计算机断层扫描分析带有微聚焦X射线管和探测器，同时还装备了用于装夹工件的转台和移动系统。METROTOM还具有安全技术，其全防护的测量间，符合DIN 54113标准的用于结构类型许可全封闭仪器的防护射线条例(0.5mr/h外罩)。同时，它也提供了符合人体工程学的优化设计（特设的上料位置）。

　　　　　　　　　　　　　　　　　　　　蔡司转台，配有直接驱动高敏感性的探测系统

　　业界验证的线性技术

蔡司的精密机械组件
导轨误差补偿（CAA计算机辅助精度修正）
蔡司原装转台，配有直接驱动
自产的气浮轴承
分辨率：0.036˝
最大负载（中心）：500N

　　传感器：微聚焦X射线管

高电压：10 – 225 keV
电子管电流：5 – 3000 μA
目标功率：320 W max.
反射角：50°锥角
速流发射角：30°锥角
焦点尺寸：> 7 μm平板式探测器
带有高敏感性的探测系统
1024 x 1024 像素每 400 μm²用于三维CT
数字式放射性检测法，低失真率

声明：本网站所收集的部分公开资料来源于互联网，转载的目的在于传递更多信息及用于网络分享，并不代表本站赞同其观点和对其真实性负责，也不构成任何其他建议。本站部分作品是由网友自主投稿和发布、编辑整理上传，对此类作品本站仅提供交流平台，不为其版权负责。如果您发现网站上所用视频、图片、文字如涉及作品版权问题，请第一时间告知，我们将根据您提供的证明材料确认版权并按国家标准支付稿酬或立即删除内容，以保证您的权益！联系电话：010-58612588 或 Email:editor@mmsonline.com.cn。