法如科技推出全新三维光学扫描仪——FARO AMP
新加坡，2011年3月8日 — 法如科技有限公司（纳斯达克：FARO），世界领先的便携式测量设备以及成像解决方案供应商，日前发布了全新三维光学扫描仪，即 FARO AMP。
FARO AMP三维光学扫描仪是一种高性能的非接触式三维成像设备，在好一些应用领域达到了前所未有的精度。
FARO AMP三维光学扫描仪是一种高性能的非接触式三维成像设备，能在仅仅数秒内采集数百万个点。专利技术的使用使得AMP在零部件、组装和工具应用领域达到了前所未有的精度。
凭借单次对焦即可测量大型表面的能力使AMP成为检测复杂形状、大型光滑表面零件的理想工具。只需轻轻一按，就可获取半米视场范围内物体的详细图像。最佳用于质量检测、逆向工程以及快速制造等领域。
法如科技首席执行官 Jay Freeland 说道：“我们非常高兴看到这项新技术已运用到我们的便携式测量和成像解决方案中。但是，更加令人感到惊喜的是，我们可以以此向用户提供真正高性价比、易于使用的零件和工装模具数据采集解决方案。AMP 作为一种高端的三维测量解决方案，使我们可以继续帮助客户使用高端科技以使其产品和生产工艺更高效。”
另外，AMP还可测量普通光学系统无法检测的暗光和亮光零件。AMP以其卓越的便携式设计，出众的可靠性，以及优秀的热补偿稳定性，定是生产车间或组装生产线的不二之选。
高科技是保证AMP具备高精度的关键，即：云纹干涉测量法（Accordion Fringe Interferometry，AFI）。法如科技三维测量产品管理部主任 Chuck Pfeffer 这样说道：“AFI 利用激光产生无限聚焦的条纹图形，投射到零件上。当AMP内的高分辨率相机捕捉到条纹时，即可创建高度精确的点云，凭借点云对视场中的零部件进行真实成像。正是这些条纹的精度令AMP脱颖而出。”
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