Blum-Novotest新开发的全方位探针TC50系列采用了新型的无磨损的光学测量系统,在360°的任何方向进行测量均可得到满意的测量结果。通过按压触针来遮内部光线的非接触式原理,长期以来通过Blum的各种应用证明了其精度。它可以实现比传统机型更高速的测量,并且凭借其具有耐久性的设计,优异的电池寿命和可靠性的特点,最适合于必须在重复精度1μm以下的状态下识别工件位置和形状的加工中心使用。即使是5m/min的测量速度,也可实现1μm以下的重复性精度。具有最大加速度5G的耐久性,使点触10万次以上成为可能,并可与红外线IC55进行通信。
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