ZEISS T-SCAN 3D数字化 / 激光扫描 手持式激光扫描仪的直观数据捕获
创新的激光扫描完整解决方案以全新的面貌再次增强了 本来所具有的高性能、用户友好和灵活性
由于手持式激光扫描仪ZEISS T-SCAN CS的应用，使得快速、直观和高度精确的3D扫描在坐标 测量技术中进入全新的高度。全面革新且一体化的设计理念，包括完美匹配的辅助装置（跟踪 仪、手持式扫描仪和接触式测头），为种类繁多的应用提供了最大的灵活性,高性能的软件平 台colin3D能够在整个测量过程中，始终如一地保持高效并始终坚持以项目为导向的操作过程。
面向用户的、人性化的系统设计和易于操作的高效数据采集
ZEISS T-SCAN激光扫描仪的设计完全符合人体工学原理。 可根据操作者的需求量身定制，保证了扫描过程直观、无疲 劳感。由于配备了重量轻、结构紧凑的测头，该系统非常适 合于数据捕获，即使最难以到达的区域也不例外。 优秀的技术特性，例如，针对各种对象的表面进行高动态范 围内的数据采集，而其所具有的迄今不可见的数据速率可以 达到无可比拟的扫描速度并得到精确的测量结果。
手持式测头进行快速点测量
ZEISS T-POINT接触测头快速可靠地测量所选择的测量 点，使其成为在物体区域内进行单点测量的完美解决方 案，如（修剪）边缘和规则的几何形状。 该装置可与传统的测头一起使用，测头更换更加简单、快 速。
动态参考
即使在移动的物体上也能得到高精密的三维数据记录， 通过采用动态参考功能，在恶劣的环境条件下可以独立 执行测量工作，如振动（生产环境中，例如冲压车间或 加工部件：对移动车门的密封进行测量）。
通用软件接口
从数据采集到数据处理，至数据比较 - ZEISS T-SCAN 系统可以通过众多直接的实时接口进行控制。因此，可 以轻松集成到现有的工艺流程中。
用于不同的测量体积的光学跟踪系统
从小型到大型的物体 - 系统配置“CS+”和“LV”，为您的个人 测量应用提供理想解决方案。
ZEISS T- TRACK CS+“plus”体现的灵活性
ZEISS T-TRACK CS +光学跟踪系统与所有其他系统组件进 行优化匹配，因此开辟了广泛的测量应用领域。 极高的数据处理速率使测量具有最高的速度，有利于最大 限度地减少物体扫描过程的时间。
ZEISS T-TRACK LV大范围跟踪仪
通过采用创新型扫描和跟踪相结合的独特大范围测量，您 将在光学三维数字化中获得全新的视角。 现在您可以更快、更容易地记录大型物体的3D数据 - 手持 式激光扫描仪的高扫描速度和高达35立方米的跟踪范围， 为您进行有效的测量处理提供最大可能的运动自由。
应用范围广泛
• 质量控制/检验 - 比较CAD数据 - 边界/边缘提取（钣金件） - 与生产有关的检查
• 模具和模具制造 - 刀具重建 - 用于生成铣削刀具路径的扫描数据 - 刀具释放时的实际3D数据文档 - 复杂焊接结构的检验 - 设置仪表和安装夹具
• 快速制造 - 三维数据扫描用于快速成型
• 逆向工程 - 高度复杂几何形状测量的逆向工程
• 设计 - 设计模型的扫描，用于进一步处理CAD数据、文档 - 特征线的捕获 - 基面（对齐）的快速扫描
• 复杂组件的动态捕获，例如装夹过程
•考古学、艺术/历史文物的扫描
• 医疗技术应用（动作捕捉等）
（ZEISS ）
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