梅特勒-托利多参加2014世界制药机械、包装设备及材料中国展

2014世界制药机械、包装设备及材料中国展（简称，P-MEC）于2014 年6 月26-28 日在上海新国际博览中心召开。P-MEC由中国医药保健品进出口商会、欧洲博闻展览咨询有限公司主办，上海博华国际展览有限公司协办，此次展会共有592家企业（含仪器仪表设备企业）展示了各自的技术产品，展览面积22,547 平米，在为期三天的展期里，共计有42,543人次参观了本次展会。

梅特勒-托利多组建豪华阵容参与本届展会，旗下实验室、过程分析、产品检测和工业称量四大业务部门联合参展，带来了全面的制药行业检测解决方案。梅特勒-托利多作为专业的仪器设备解决方案供应商，针对现今制药行业需求，涵盖研究开发、仓储物流、生产包装和分析检测的全方位制药企业解决方案，帮助用户轻松符合GMP要求。

梅特勒-托利多公司在亮相展会的同时，于26日上午举行了”新超越系列XPE分析天平新品发布会”。梅特勒-托利多中国区实验室业务总经理陈淮，以及天平产品市场团队董文忠出席了新品发布会。

董文忠首先介绍了梅特勒-托利多集团及中国的发展概况，再次向莅临展位的来宾展现了作为全球领先的精密仪器制造商及销售商，梅特勒-托利多在全球拥有12000名员工，年销售额24亿美元，其产品涵盖实验室、工业衡器、过程检测、产品检测、以及商用衡器领域。在中国，梅特勒-托利多也在上海和常州拥有2家全资子公司，且在全国有超过30个办事处，向众多梅特勒-托利多产品用户提供各种销售支持和售后服务。

紧接着，发布会进入了高潮。在5秒钟倒计时后，由陈淮和董文忠一起，共同发布了新超越系列XPE分析天平，开启了分析称量的新纪元。随后，董文忠向现场的各位来宾简单介绍了XPE分析天平的众多产品特性及客户价值。

上图：梅特勒-托利多展位

上图：梅特勒-托利多新超越系列XPE分析天平新品发布会

上图：陈淮和董文忠一起，正式发布了XPE分析天平

上图：新超越系列XPE分析天平

附录：

梅特勒-托利多新超越系列XPE分析天平简介

梅特勒-托利多开创了分析称量的新纪元，并结合众多智能化特性，让您的日常称量任务变得简单无误。您不仅可以从新超越系列XPE分析天平的卓越称量性能中获益，而且也可以确保完全符合法规一致性和至高的过程安全性。

StatusLight状态指示灯，为您实现便捷的天平管理

StaticDetect静电检测及新一体化去静电装置，避免称量误差，并使样品处理更加简单安全

LevelGuide水平向导，仅需15秒即可指导您完成水平调节，确保合规的同时，提高您的工作效率

LabX软件，实现全面的过程控制

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