爱德华SPH2010
| 名 称： | SPH2010 |
| 型 号： | 2010 |
| 测量范围(mm)X： | 200 |
| 测量范围(mm)Y： | 100 |
| 测量范围(mm)Z： | |
| 探测系统： | 英国RENISHAW系统 |
| 分辨率： | 0.5μm |
| 示值误差（μm）： | 1.5+L/100 |
| 探测误差（μm）： | |
| 稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数据处理软件，使该仪器具有外形尺寸小，整机重量轻，机械系统稳定，安装调试简单，功能强大，操作使用方便，应用领域广泛的优点。 技术特点： 1.花岗岩基座及立柱为主机的机械系统提供了超高的稳 定性 2.先进的精密光栅测量系统结合计算机辅助误差修正软 件保证仪器的高精度 3.计算机可编程控制光学照明系统 4.先进的图像处理及多样化的自动寻边采点功能取代 了目视瞄准手工技术的传统测量方式，极大的提 高了工作效率并从根本上消除了人为误差 5.图形化的中文操作界面更易于操作者学习掌握 6.编程及自学习编程功能令同一工件（或同类工件）的批 量（或重复）测量更为轻松。 7.功能强大的通用测量软件可与多种专用软件（包括统计 与质量控制、曲线、齿轮、螺纹等）配合使用以解决普 通的测量问题和各种特殊的测量解决问题。 | |
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