CIMT研讨会题目及地点

力丰制造科技有限公司 (展台： W3-C104)

研讨会地点：中国国际展览中心(新馆) 综合服务楼二层东E-207室

研讨会时间：下午1:30 – 4:30

研討會題目及簡介

4月7日
Metris（迈卓斯）X-Tek X光断层检测技术：展示现今高科技X光断层于高精度检测的应用，通过非摧毁性方式对检测对象进行外部及内部三维检测。

4月8日
Metris（迈卓斯）iGPS及激光雷达大型检测技术：介绍利用GPS概念的新科技如何把整个车间变成数码空间，而且可以无限扩展。现场讲解航空及造船业的应用案例。

4月9日
Metris（迈卓斯）MCA及LC60D扫描仪提供的便携式数码检测方案：介绍以防操作疲劳为设计原则的测量臂（配合激光扫描仪及接触式探针）如何轻易进行扫描及检测以前难于扫描的表面，比如：镜面及黑色的表面。

4月10日
Metris（迈卓斯）光学便携式三座标检测系统：现场演示以光学便携式三座标检测系统进行扫描、点对点或者实时动态检测，协助用户通过一便携式系统在生产现场进行产品组装分析。

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