名称： MGH686 型号： 686 测量范围(mm)X： 600 测量范围(mm)Y： 800 测量范围(mm)Z： 600 探测系统： PH10T+TP20静态温度补偿系统 分辨率： 0.1μm 示值误差（μm）： 1.5+L/350 探测误差（μm）： 1.8 MGH系列测量机采用封闭框架结构设计，是高精度精密型测量机的专用结构。由固定桥和工作台移动组成，其牢固的机械结构确保了系统具备最大的刚性...[阅读全文]
名称： SPH2010 型号： 2010 测量范围(mm)X： 200 测量范围(mm)Y： 100 测量范围(mm)Z： 探测系统： 英国RENISHAW系统 分辨率： 0.5μm 示值误差（μm）： 1.5+L/100 探测误差（μm）： 稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数...[阅读全文]
名称： SP2010C 型号： 2010c 测量范围(mm)X： 200 测量范围(mm)Y： 100 测量范围(mm)Z： 探测系统： 英国RENISHAW系统 分辨率： 0.5μm 示值误差（μm）： 1.0+L/100 探测误差（μm）： 稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数...[阅读全文]
名称： sp3020 型号： 3020 测量范围(mm)X： 300 测量范围(mm)Y： 200 测量范围(mm)Z： 探测系统： 英国RENISHAW系统 分辨率： 0.5μm 示值误差（μm）： 2.5+L/100 探测误差（μm）： 稳定的花岗岩底座及立柱，紧凑的十字工作台，精密光栅测量系统，高品质的光学显微镜及CCD图像传感器，可编程控制的光学照明系统，配之以功能强大的影像测量及数据...[阅读全文]
零件振动排列机 品牌:IDEX 型号:BFP-3C 产地:日本 BFP-3C排列机具有比其前身BFP-2AC(便利型)更方便的使用条件和更简单的操作方式，更是一款经济型的机器。 详细说明 近来，制造电子元件和微小零件的方法由自动化改变到人手插件，Idex零件排列机能充分满足这一改变要求，特别适合于象需要有效分选的电子元件、轻小零件、镜头系统零件和汽车零件的...[阅读全文]
振动试验机 品牌:IDEX 型号:BF-50UD 产地:日本 应用于电子产品关联包装试验。如电子设备、电脑相关、通信设备、测量仪表、精密相关、汽车器械等。 详细说明 特性： 体积小，功能多 通过三种不同的振动模式，多范围应用。 如耐振试验、耐久试验、误动作检查、筛选、共振、去除异物等。 无需安装工程，即可在生产线上使用 改变生产线或改变检查工...[阅读全文]
真圆度仪 品牌:KOSAKA 型号:EC3200W 产地:日本 EC3200W 真圆度仪 品牌:KOSAKA 型号:EC1600W 产地:日本 EC1600W 表面粗糙度测量仪 品牌:KOSAKA 型号:SE1200 产地:日本 -便携式 -多种测试参数选择 -符合国际标准 -应用范围广 -有效成本高 详细说明 特性： -Skidless测量方式 可采用skidless或skidded方式来测量工件表面粗糙度，对于长度短、 狭小...[阅读全文]
-日本SHIMADZU 拉力、压缩万能试验机 品牌:SHIMADZU 型号:EZGraph 产地:日本 适用范围：拉力、压缩、弯曲、剥落试验 如：薄片剥落、PCB板弯曲、芯片弯曲、IC元件切变强度、电子元件移除、PC卡插拔试验、LCD面板按压力试验、触压测试等。 -日本AIKOH 弹簧伸张/压缩试验机 品牌:AIKOH 型号:SHR系列 产地:日本 SHR系列全自动弹簧伸张/压缩试验机采...[阅读全文]
最近的科研努力已结出了8项新的待批专利成果，在进一步揭示钻削工艺奥秘的同时，更将生产效率和可靠性提高到超越以往的全新水平。新一代可转位刀片钻头采用阶进技术进行钻孔——这适用于所有的加工材料。 CoroDrill880钻刀的阶进技术运用先进的程序，历经多年开发而成，这种新型钻头以低切削力进刀，在整个孔径上均衡用力进行加工。CoroDrill880...[阅读全文]
首先，欢迎阅读新一期《金属切削世界》。为了方便世界各地的读者，本期杂志同时用16种语言出版。 作为中国制造业的积极参与者，我们目睹了该国近20年来翻天覆地的变化。但尽管新旧技术不断更替，竞争优胜劣汰，有一样东西却从未改变，那就是制造更新、更好及更低成本的产品。 这也是山特维克可乐满始终面临的一个挑战。我们一直在通过不断的创新...[阅读全文]
