蔡司O-INSPECT 322 和MICURA炫丽现身CIMT2013

　　【编者按】4月22日，第十三届中国国际机床展览会（CIMT2013）盛大开幕。在这两年一届的盛会上，大量知名展商都推出了自己的新产品和新技术。蔡司作为三坐标测量技术的发明者和奠基者在本届CIMT展会上也展示了许多技术和产品，引发了很多需求者的浓厚兴趣，其中O-INSPECT 322坐标测量仪和MICURA 高精度测量机便成为了蔡司在本届CIMT展会上的两颗璀璨明珠。

　　4月24日，蔡司在第十三届中国国际机床展览会（CIMT2013）上举办了新产品的技术交流会。在这次活动上蔡司主要推出了测量技术与光学技术最佳组合的O-INSPECT 322和使小型工件享受顶级精度的MICURA 高精度测量机两款产品，它们引发了参会人员的浓厚兴趣。

蔡司(Zeiss)技术交流会现场

　　O-INSPECT 322 多功能复合式测量中心融合了蔡司最佳的测量技术与光学技术，具有绝佳的测量精度及长期稳定可靠的重复性。O-INSPECT多功能通过了德国国家计量院的 PTB认证全球最具权威与完善的几何尺寸及形位公差的测量与评定功能。同时配备高速接触式扫描测头和精密光学传感器，并将投影仪、显微镜、轮廓仪与三坐标测量机的优势与功能集于一身，最大限度地降低了不同检测仪器测量综合误差，更有效缩短几何测量链，更为高速，为大批量与高精度测量要求提供了绝佳解决方案。
　　MICURA测量机灵动高效的连续扫描测头系统提供了更佳的主动式扫描策略，实现每秒高达200测量点的高速扫描，扫描精度可以达到一个微米以下，同时支持0.3 mm的微细测针球径。同时拥有绝佳的动态测量速度，在确保精度前提下，测量速度可根据测量精度要求自动进行优化和调节。MICURA尤其适用于规格较小、公差严格且结构复杂的工件，如液压执行元件和控制元件、小型电机和变速箱内的结构零件或者在光学以及电子技术中的结构零件，以紧凑的结构保证顶级的测量精度。
　　蔡司作为三坐标测量技术的发明者和奠基者以不断追求技术创新的企业精神及严谨、踏实的企业作风成为了世界先进制造企业保证产品质量的可靠供应商。蔡司新产品和新技术的推出必将会给制造企业带来更大发展前景和利润空间。

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